天平特點AB經(jīng)典系列電子分析天平精確、操作簡便、性能可靠、經(jīng)久耐用 這是對梅特勒-托利多AB經(jīng)典系列天平最恰當?shù)脑u價。采用單模塊傳感器技術(shù)，具有緊湊而堅固的結(jié)構(gòu)和良好抗過載、抗沖擊性能采用溫度漂移及時間設(shè)置觸發(fā)的全自動校準技術(shù)（FACT），有效消除環(huán)境溫度變化對稱量結(jié)果精確性的影響采用亮背景液晶顯示屏，方便用戶在不同稱量環(huán)境下讀取稱量結(jié)果 金屬鑄鋁制成的防化防撞擊機架，保證天平的長期使用標配機架塑料保護罩，實現(xiàn)天平的快速清潔 可拆卸防風罩設(shè)計，避免散料樣品的腐蝕內(nèi)置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等外圍設(shè)備具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量和動態(tài)稱量等內(nèi)置應(yīng)用程序天平特點 型 號AB135-S/FACTAB265-S/FACTAB54-S/FACTAB204-S/FACTAB204-S/FACT型 號AB135-SAB265-SAB54-SAB104-SAB204-S型 號 AB104-LAB204-L可讀性mg0.01/0.10.01/0.10.10.10.1最大稱量值g31/12061/22051110220重復性(s)mg0.03/0.1⑴0.03/0.1⑴0.10.10.1線性誤差mg0.2⑵0.2⑵0.20.20.2稱盤尺寸(mm)￠80￠80￠80￠80￠80防風罩有效高度(mm)237237237237237外形尺寸(W D H)245 321 344mmAB-L：外置砝碼校準（需選購）；AB-S：內(nèi)置砝碼校準；AB-IC：內(nèi)置砝碼校準；AB-S/FACT：采用溫度漂移及時間設(shè)置觸發(fā)的全自動校準技術(shù)（FACT）。（1）精細量程內(nèi)10g樣品典型重復性：0.02mg ； （2）精細量程內(nèi)10g樣品典型線性：0.03mg