半導(dǎo)體分立器件高低溫老化巡測(cè)系統(tǒng) 　　分立器件高低溫巡測(cè)系統(tǒng)是北京勵(lì)芯泰思特測(cè)試技術(shù)責(zé)任有限公司為軍工、航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的半導(dǎo)體分立器件測(cè)試輔助設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件的放大倍數(shù)，擊穿電壓，漏電流等電參數(shù)進(jìn)行時(shí)實(shí)測(cè)試。免去了以往要拿出高低溫箱在進(jìn)行測(cè)試的不便及誤差。　　一、系統(tǒng)組成　　1.巡測(cè)控制器　　2.128管位老化插座板　　3.Espec高低溫箱（自選）　　二、巡測(cè)控制器：　　巡測(cè)控制儀有手動(dòng)和程控兩種使用方式。手動(dòng)方式通過控制器上的按鍵、程控方式通過計(jì)算機(jī)串行通訊口來控制矩陣板上的繼電器閉合，將B、C、E分配到第N個(gè)被測(cè)器件上。三、Espec高低溫箱（用戶自選）　　高低溫范圍-55度-+155度　　四、使用范圍　　本巡測(cè)控制器主要用于半導(dǎo)體分立器件在高低溫環(huán)境下的電性能檢測(cè)。目前，許多的廠家對(duì)器件的質(zhì)量越來越重視，購(gòu)進(jìn)了一些高低溫的設(shè)備，但是，在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，卻是將被測(cè)試器件從高低溫箱中拿出來，然后再進(jìn)行測(cè)試，這個(gè)過程持續(xù)的時(shí)間雖然不長(zhǎng)，可是被測(cè)器件的溫度已然有了變化，溫度環(huán)境的變化導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)的偏移，巡測(cè)控制器可以解決上述的問題，保證器件是在設(shè)定的溫度環(huán)境中進(jìn)行時(shí)實(shí)測(cè)試?！　∥?、使用說明　　本控制器有自動(dòng)和手動(dòng)兩種控制方式。如果用戶需要和圖示儀進(jìn)行連接，通常采用手動(dòng)控制方式，因?yàn)镈UT的合格與否，需要操作人員觀察圖示儀，然后加以判斷，不必采用自動(dòng)方式。如果用戶希望購(gòu)買BC3193分立器件測(cè)試儀，則可以采用自動(dòng)方式進(jìn)行操作，并且測(cè)試的結(jié)果可以自動(dòng)紀(jì)錄，非常方便，特別推薦采用該方式進(jìn)行操作?！　⊙矞y(cè)控制器由兩部分組成：控制器和老化插座板?！　】刂破鲀?nèi)置MCU，由他發(fā)出控制信號(hào)，控制繼電器矩陣，將測(cè)試信號(hào)逐個(gè)切換到被測(cè)器件，以便對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試。插件盒包含了繼電器矩陣、其他一些控制，以及一個(gè)可以插入128個(gè)被測(cè)試器件的測(cè)試?yán)匣澹褂脮r(shí)用戶可以將被測(cè)試器件成批插入老化板，然后放入高低溫箱中，連接好電纜，待溫度環(huán)境合適時(shí)，便可以由控制器進(jìn)行控制逐個(gè)將被測(cè)試器件全部測(cè)試完?！　±匣迳系牟遄卸喾N樣式，可以滿足用戶測(cè)試各種封裝的分立器件。