三維光學(xué)測量系統(tǒng)TN3DOMS.S 三維光學(xué)測量系統(tǒng)3.0版，在保持其前兩代產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上，其外觀設(shè)計更加穩(wěn)固可靠，并增加了以下功能： 亞像素邊緣檢測功能：通過邊緣檢測，可以在測量過程中只測量工件的圓孔、槽、邊線、平面、圓柱、球體及圓錐等特征，也可以將這些高精度特征點(diǎn)與面測量點(diǎn)云重合以輔助逆向及檢測過程。采用先進(jìn)的亞像素檢測技術(shù)，其測量精度達(dá)到了0.1mm/m。 手動指定測量點(diǎn)：可通過手動指定參考點(diǎn)或圓形物，不經(jīng)過掃描就實時計算參考點(diǎn)或圓形中心的三維坐標(biāo)，可以批量處理。從而把面檢測范圍擴(kuò)展到圓孔孔位孔徑檢測及變形測量領(lǐng)域。 直接點(diǎn)云操作功能：勿需第三方軟件，可以直接測量兩點(diǎn)間距離；實現(xiàn)了對點(diǎn)云的選取、刪除等操作。彩色結(jié)構(gòu)光掃描模式：在對物體進(jìn)行三維掃描的同時得到物體的24位真彩色。 測量范圍可定制的功能：可以針對客戶需求，直接單幅測量200毫米至5米物體表面的點(diǎn)云。其測量精度通常優(yōu)于單幅測量范圍的1/10000。 主要技術(shù)參數(shù) 單次拍攝范圍（mm3）