Hawk200三維測量顯微鏡-綜述英國工業(yè)顯微鏡有限公司的Hawk200非接觸式測量顯微鏡提供高可重復性的精度，能針對任何材料制造的復雜元器件進行3-坐標測量。從簡單的手工、單一特性作業(yè)至復雜的元器部件測量，Hawk200為各類的測量要求提供組合式的和靈活的解決方案。復雜元器件的準確測量通過使用高對比度、高分辨率光學成像來完成，為快捷和簡易的測量，能提供強化的表面清晰度。關鍵的零部件能絕對地被測量。Hawk200三坐標測量機-詳細說明Hawk200是以精密和簡易為主而設計，從而非常適用于對各類型的元器件形狀的常規(guī)質(zhì)量管理。Hawk200給予令人欽佩的精確度、可重復性以及重現(xiàn)性，并有各類的選配件和附屬配件可供選配，其中包括成像采集、全幾何的計算機數(shù)據(jù)處理和視頻邊緣辨別（VED）。優(yōu)異的光學技術(shù)精密元器件的精確非接觸式測量要求高分辨率、高對比度成像、和結(jié)合一個精密的測量平臺。Hawk200采用英國工業(yè)顯微鏡有限公司的專利高能光學技術(shù)，為快捷和簡易的測量，提供強化的表面清晰度。優(yōu)異的光學透明度同時能同步地進行細致的視覺檢測。有所視頻系統(tǒng)數(shù)碼化光學信息。Hawk200與其區(qū)別之處，是運用一個沒經(jīng)過測量前處理的純光學成像。元器部件必能準確地被測量。精密測量平臺Hawk200可選配各種高規(guī)范、高性能的測量平臺，提供測量規(guī)格可達400毫米x300毫米(16英吋x12英吋)。所有的測量平臺均已通過非線性誤差修正（NLEC）方法進行出廠前的預裝校準，以保證優(yōu)良的精度，這校準可溯及NPL/NAMAS/NIST國際標準以符合ISO9000質(zhì)量認證。結(jié)合0.5 m分辨力的測量譯碼器，這絕對保證該系統(tǒng)2 m的可重復性精度。*直觀的微處理器數(shù)據(jù)處理由QC-200多功能微處理器完成，QC-200最適用于測量普通元器件的外貌特征，例如圓、角、線、弧及距離，并且以操作簡便為主而設計，采用了一個直觀的界面裝置及有實質(zhì)的視覺顯示。X、Y和Z坐標測量是以數(shù)字和圖解形式表示。輸出連接包括USB端口、并聯(lián)端口和串聯(lián)端口。選配件和附屬配件表面光和底部光照明裝置選配件能使光源調(diào)節(jié)適用于任何測量應用。表面光照明裝置由一組6-點光的無影環(huán)形燈提供，可加裝同軸光裝置（光線透過物鏡）的選配件，用于觀察盲孔或深層形狀?？焖俑鼡Q的低放大倍率選配件為：x10倍、x20倍、x50倍和x100倍（x20倍作為標配），配置高倍率物鏡，并可裝插在四孔位的物鏡轉(zhuǎn)換器上，其放大倍率為：x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x1000倍。輪廓表面輪廓和表面*采用200毫米x150毫米的測量平臺（x200的系統(tǒng)放大倍率，控溫攝氏20度，使用在玻璃格柵上可追溯鍍鉻件以及在標準測量平面上的交叉點）