美國貝克曼庫爾特公司隆重推出的DelsaNano系列Zeta電位及粒度分析儀，應用PCS光子相關光譜法以及最新FST專利技術，是一款新型的具有極高的動態(tài)測量范圍的多用途的測量儀。不但擁有獨家的固體表面Zeta電位分析功能，同時擁有獨一無二的可進行高濃度樣品的Zeta電位測量功能。完全符合ISO13321國際標準的DelsaNano系列為目前功能最強大的Zeta電位納米粒度分析儀。最適于從事納米技術、無機原料、表面化學、高聚物、有機質、藥劑以及醫(yī)學等的基礎研究與應用研究。DelsaNano的技術特點 惟一擁有測定顆粒在高濃溶液中的zeta電位的技術 惟一擁有測定固體與薄膜等材料液固界面zeta電位的技術 極寬的動態(tài)測量范圍（0.6nm~7μm），可精確測量稀釋懸浮液或高濃度懸浮液 寬達4個數量級的濃度測量范圍：0.001%~40% 多角度測量(15度、30度及160度) 選配PH自動滴定裝置可提供zeta電位的動態(tài)變化 方便易用的樣品池及軟件 采用電滲截面測定技術，確保測量可靠準確 提供可用于特殊樣品的即用即棄的樣品池（可選） 備有可選的微量樣品池 采用線性相關器與對數相關器相連合的技術，可適品的表征 嚴格遵循ISO13321測定粒徑的光子相關法標準