*平行平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。產品名稱平行平晶功能：平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。產品規(guī)格：每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組測量范圍：組Ⅰ系列：0～25mm組Ⅱ系列：25～50mm組Ⅲ系列：50～75mm組Ⅳ系列：75～100mm測量面上平面度偏差 0.1 mu;m平面度局部偏差 0.03 mu;m測量面平行度誤差：組Ⅰ系列允差值：0.06 mu;m組Ⅱ，Ⅲ系列允差值：0.08 mu;m組Ⅳ系列允差值：0.1 mu;m平晶直徑 phi;30mm， phi;40mm， phi;40mm， phi;50mm平行平晶尺寸系列表組號0－2525－5050－7575－100115.00，15.1215.25，15.3940.00，40.1240.25，40.3765.00，65.1265.25，65.3790.00，90.1290.25，90.37215.12，15.2515.37，15.5040.12，40.2540.37，40.5065.12，65.2565.37，65.5090.12，90.2590.37，90.50315.25，15.3715.50，15.6240.25，40.3740.50，40.6265.25，65.3765.50，65.6290.25，90.3790.50，90.62415.37，15.5015.62，15.7540.37，40.5040.62，40.7565.37，65.5065.62，65.7590.37，90.5090.62，90.75515.50，15.6215.75，15.8740.50，40.6240.75，40.8765.50，65.6265.75，65.8790.50，90.6290.75，90.87615.62，15.7515.87，16.0040.62，40.7540.87，41.0065.62，65.7565.87，66.0090.62，90.7590.87，91.00 注：測量工作應在室溫20 3℃條件下，保持數(shù)小時后進行