?半導(dǎo)體美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀:詳述
1.元素范圍:鋁13到鈾92。
2.x射線激發(fā)能量:50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管
3.探測器:硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率
測量的分析層和元素:5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達(dá)25元素
4.過濾器/準(zhǔn)直器:4個初級濾波器與4個電動準(zhǔn)直器(0.1 0.2 0.3 1.5mm)
5.聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng)
數(shù)字脈沖處理:4096 多通道數(shù)字分析器與自動信號處理,包括X射線時間修正和防X射線積累
6.電腦:英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb DDR3內(nèi)存,微軟Windows 7 專業(yè)64位等效
7.鏡頭:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
8.電源:150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲
9.工作環(huán)境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,無冷凝水
10.重量:32公斤
11.內(nèi)部尺寸:高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)
12.外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24)
美國原裝博曼(BOWMAN)X射線熒光膜厚測試儀應(yīng)用領(lǐng)域于分析電子部品電鍍層的厚度 ,各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析,各鍍層的成分比例分析等。美國原裝博曼膜厚儀用于高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信號處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘,所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量:單一鍍層、二元合金層、三元合金層、雙鍍層等 ,應(yīng)用于端子,連接器,細(xì)小的金線,在五金,汽車配件.線路板,衛(wèi)浴,等行業(yè),使用安全簡便,堅(jiān)固耐用節(jié)省維護(hù)費(fèi)用,高分辨率探測器硅PIN檢測器250 ev,配合快速信號處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測限