鎖相熱成像多少錢_optotherm紅外熱發(fā)射顯微鏡-立特為智能電話：l52l9504346 （溫先生）

關(guān)鍵詞： ?Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1.?它的應用非常廣泛，去封裝的芯片分析，未去封裝的芯片分析，電容，F(xiàn)PC,甚至小尺寸的電路板分析（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在對樣品的不同階段都可以使用thermal技術(shù)進行分析，如下圖示例，樣品電路板漏電定位到某QFN封裝器件漏電，將該器件拆下后發(fā)現(xiàn)漏電改善，對該器件焊引線出來，未開封定位為某引腳，開封后扎針上電再做分析，進一步確認為晶圓某引線位置漏電導致，如有需要可接著做SEM,FIB等分析。

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未開封器件分析

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開封器件分析

2. 它能偵測的半導體缺陷也非常廣泛，微安級漏電，低阻抗短路，ES擊傷，閂鎖效應點，金屬層底部短路等等，而電容的漏電和短路點定位，F(xiàn)PC,PCB,PCBA的漏電，微短路等也能夠精確定位

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lock-in鎖相分析

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開封芯片漏電分析

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GAN-SIC器件

3，它是無損分析：作為日常的失效分析，往往樣品量稀少，這就要求失效分析技術(shù)最好是無損的，而對于某些例如陶瓷電容和FPC的缺陷，雖然電測能測出存在缺陷，但是對具體缺陷位置，市場上的無損分析如XRAY或超聲波，卻很難進行定位，只能通過對樣品進行破壞性切片分析，且只能隨機挑選位置，而通過Thermal 技術(shù)，你需要的只是給樣品上電，就可以對上述兩種缺陷進行定位

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FPC缺陷分析

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電容缺陷分析

4,鎖相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：利用鎖相技術(shù)，將溫度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以偵測uA級漏電流和微短路缺陷，遠由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點偵測法（0.1℃分辨率，mA級漏電流熱點）

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5，系統(tǒng)能夠測量芯片等微觀器件的溫度分布，提供了一種快速探測熱點和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示出缺陷的位置，在半導體領(lǐng)域

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在集成電路操作期間，內(nèi)部結(jié)自加熱導致接合處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接合處本身，并且熱從接合部向外傳導到封裝中。因此，器件操作期間的精確結(jié)溫測量是熱表征的組成部分。

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芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱分析工具（如 圖像序列分析）可用于評估樣品由內(nèi)到外的熱量傳遞過程，以便確定管芯接合的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)作為一臺專業(yè)為缺陷定位的系統(tǒng)，專為電子產(chǎn)品FA設(shè)計，通過特別的LOCK-IN技術(shù)，使用LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率提升到0.001℃（1mK），同時光學分辨率最高達到5um,尤其其軟件系統(tǒng)經(jīng)過多年的優(yōu)化，具有非常易用和實用，以下是OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)分析過程的說明視頻

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited?‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作為Optotherm公司中國代表（獨家代理），在深圳設(shè)立optotherm紅外熱分析應用實驗室，負責該設(shè)備的演示和銷售，如有相關(guān)應用，可提供免費評估測試服務。

深圳市立特為智能有限公司LEADERWE立為包括立為智能國際有限公司和深圳市立特為智能有限公司，是一家專業(yè)提供電子、材料等領(lǐng)域分析及檢測設(shè)備的綜合服務供應商！

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高端適用的設(shè)備，前沿領(lǐng)先的技術(shù)，高效熱情的服務，LEADERWE 立為努力成為廣大客戶最信賴的科學設(shè)備供應商，愿與我們的供應商及客戶共謀發(fā)展、共同迎接機遇與挑戰(zhàn)。

中國主要辦事處：深圳、香港、合肥。

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紅外熱成像顯微鏡

隨著電子器件的不斷縮小，熱發(fā)生器和熱耗散變得越來越重要。微型熱顯微鏡可以測量并顯示溫度分布的半導體器件的表面，使熱點和熱梯度可顯示缺損位置，通常導致效率下降和早期故障的快速檢測。

產(chǎn)品特點

檢測芯片的熱點和缺陷

電子元件和電路板故障診斷

測量結(jié)溫

甄別芯片鍵合缺陷

測量熱電阻封裝

應用

激光二極管性能和失效分析

20微米/像素固定焦距

50度廣角聚焦鏡頭

320*240非制冷探測器

30幀/秒拍攝和顯示速度

0—300攝氏度測量范圍

室溫測量

便于使用——1分鐘安裝測量待命

紅外熱成像配套軟件

軟件提供了一套廣泛的分析工具

幫助客戶非常容易而快速獲取溫度信息。

實時的帶狀圖、拍攝及回放序列

不同視角和建設(shè)性的數(shù)據(jù)分析手段

熱點及缺陷鏈接方法

infrasight MI的紅外攝像機的靈敏度高結(jié)合先進的降噪和圖像增強算法提供檢測和定位的熱點在半導體器件消耗小于1毫瓦的功率和升高溫度，表現(xiàn)出只有0.05攝氏度。短時間試驗中，設(shè)備通常是供電的5到10秒。I/O模塊使最大功耗是與軟件測試同步。測試平均電阻低于一歐姆短路檢測。因為低電阻短路消失，只有少量的電和熱，一系列的測試可以一起平均提高測試靈敏度。自動停止功能打開I/O模塊繼電器自動切斷電源，對設(shè)備/板作為一個預先定義的閾值以上的短溫度升高。

這種安全功能可以幫助防止對設(shè)備/板損壞，同時定位時間。微量可用于測量功能的器件結(jié)溫。為了準確測量結(jié)溫，一個模具的表面發(fā)射率的地圖必須首先被創(chuàng)建。該裝置是安裝在保溫階段控制在均勻的溫度。然后計算thermalyze軟件的表面，適用于熱圖像糾正發(fā)射率的變化在死像素的發(fā)射率的地圖像素。測量結(jié)溫，設(shè)備供電，最高溫度區(qū)域內(nèi)圍交界處測量。

鎖相熱成像多少錢_optotherm紅外熱發(fā)射顯微鏡-立特為智能健康等100余種疒癥，涉及人體各個系統(tǒng)的常見疒和多發(fā)疒。二是有利于疾疒早期發(fā)現(xiàn)。與x光、b超、ct等影像技術(shù)相比，遠紅外熱成像檢測最重要的一個優(yōu)勢就是早期預檠。，鎖相熱成像多少錢_optotherm紅外熱發(fā)射顯微鏡-立特為智能條件還是有的，溫度過高或者過低都不好，然后就是環(huán)境中的濕度，濕度過高更會影響儀器中的電子元件。所以，我們在戶外使用熱像儀的時候我們就要格外注意太陽的輻射和測量溫，鎖相熱成像多少錢_optotherm紅外熱發(fā)射顯微鏡-立特為智能線采集的點形成的陣列工藝存在缺陷，或光信號進行轉(zhuǎn)化的過程中出現(xiàn)錯誤，會造成圖像上有些像素的信息有誤，導致圖像中的像素值不準確，這些有缺陷的像素即為圖像壞點由于來，鎖相熱成像多少錢_optotherm紅外熱發(fā)射顯微鏡-立特為智能越好，這是當然的，但是還是要視情況而定，如果被測的物體并不要求像素的話，也就沒必要多花錢買個高像素的。目前民用的熱像儀分辨率大多為3檔，高端為640480，中端。