有機(jī)EL元件發(fā)光效率測試裝置能簡單并迅速地測試有機(jī)EL元件的各種發(fā)光特性。該設(shè)備主要由暗箱、輝度計(jì)、分光器、EL元件驅(qū)動(dòng)電源及分析裝置構(gòu)成，可以對有機(jī)EL元件的I-V-L特性、外部量子效率等各種發(fā)光效率、發(fā)光光譜、各項(xiàng)色度值、輝度的經(jīng)時(shí)變化等進(jìn)行測量。只需要裝好EL元件，就簡單而快速地完成測量。設(shè)備特點(diǎn)：1．定各種發(fā)光特性與經(jīng)時(shí)變化2. 測定發(fā)光光譜和各種色度值3. 測定元件的外部量子效率4. 可以通過軟件控制電流和電壓的階段性變化5. 通過設(shè)定元件回轉(zhuǎn)功能可以測定光放射角度的分布狀況6. 通過設(shè)定元件的溫度控制功能可以在高溫下完成相關(guān)測量7. 使用脈沖電源時(shí)可以脈沖變化測定項(xiàng)目：1.輝度（cd/ｍ ） 電壓（V） 電流密度（mA/cｍ ）：測量電壓電流的變化對輝度的影響2.外部量子效率（photons/electrons）：用輝度和光譜來算出外部量子效率3.發(fā)光效率（cd/A）,能量轉(zhuǎn)換效率（lm/W）：計(jì)算出相對于電流密度的發(fā)光效率和能力轉(zhuǎn)換效率4.發(fā)光光譜：測定驅(qū)動(dòng)電壓、電流下的光譜5.各種色度值：XY坐標(biāo)，CRI，色溫，RGB值6.輝度的經(jīng)時(shí)變化：測定一定的驅(qū)動(dòng)電壓或電流下的輝度的經(jīng)時(shí)變化7.放射角度分布：通過旋轉(zhuǎn)元件測試光放射角度的分布狀況 技術(shù)參數(shù)測試暗箱可測試的芯片尺寸20mm?100mm芯片固定平臺(tái)XY手動(dòng)調(diào)整范圍： 30mmZ軸手動(dòng)調(diào)整范圍： 3.5mm回轉(zhuǎn)手動(dòng)調(diào)整范圍： 90度輝度計(jì)測試視野 1.1mm? 1.5mm或者 0.4mm? 0.5mm測試角度0.3度輝度測試范圍FAST:0.01cd/m ?999900cd/m SLOW:0.01cd/m ?499900cd/m EL1003系統(tǒng)的測量界限輝度是1.0cd/m 測試精確度測量值的 2% 1dgt(10cd/m 以上)分光器檢測器CCD列分光波長域380nm?780nm波長分辨率2nm光導(dǎo)入系統(tǒng)調(diào)焦鏡頭+光纖I/FUSB電壓、電流發(fā)生器輸出電流/設(shè)定分辨率0.000mA?200.0mA/1 m輸出電壓/設(shè)定分辨率0.00V?38.00V/10mV電流測量范圍/分辨率0.0mA?200.0mA/100 A電壓測量范圍/分辨率0.00V?38.00V/10mVI/FRS-232C數(shù)據(jù)解析設(shè)備系統(tǒng)WindowsXP、PC、TFT液晶顯示測量控制設(shè)定參數(shù)顯示測量結(jié)果的圖示數(shù)據(jù)保存測量時(shí)間、測量條件、測量值、計(jì)算值的TEXT保存