發(fā)光芯片檢測設(shè)備采用專業(yè)設(shè)計(jì)的同軸光學(xué)系統(tǒng)，測量的波長范圍涵蓋350mm?1000mm，可以對可視LED、UV-LED、近紅外LED等進(jìn)行測量和評估。 產(chǎn)品特點(diǎn)：1. 可同時(shí)對芯片的發(fā)光形狀、光譜和強(qiáng)度完成即時(shí)測量；2. 輕巧設(shè)計(jì)，可放在桌上直接操作；3．較廣的測量波長范圍：350mm?1000mm4．高測量分辨率：形狀分辨率1.34 m、光譜分辨率1nm、強(qiáng)度分辨率10nW5．可選擇安裝I-L-V測量功能6. 配備有標(biāo)準(zhǔn)的手動(dòng)XYZ軸平移臺 用途： 1. 生產(chǎn)線上的產(chǎn)品檢查 2. 質(zhì)量管理部門的故障分析 3. 技術(shù)開發(fā)部門的實(shí)驗(yàn)芯片檢測 4. 研究及開發(fā)用設(shè)備 5. 測定LED性能的基礎(chǔ)設(shè)備產(chǎn)品參數(shù) 測量測量項(xiàng)目發(fā)光形狀、光譜、光強(qiáng)度受光條件NA：0.1、焦點(diǎn)距離：15.7mm測量波長范圍350nm?1,000nm測量光強(qiáng)度范圍約10nW?100mW:根據(jù)光束和光譜而變化可測量的最大芯片尺寸及分辨率約1.3mm 1.1mm,分辨率1.0 m光譜分辨率約1nmXYZ平臺系列構(gòu)成光學(xué)系搭載XY平臺、樣品搭載XYZ平臺、樣品托架、底座光學(xué)系搭載XYZ平臺移動(dòng)量：XY 50mm樣品搭載XYZ平臺移動(dòng)量：XY 6.5mm、Z 3.0mm，分辨率：10 m樣品托架標(biāo)準(zhǔn)：4個(gè)插口底座300mm 450mm測量軟件發(fā)光形狀光束寬幅、坐標(biāo)、光束面積、主軸傾斜度，X圖，XY圖，二維圖，三維圖等。發(fā)光光譜光束波長、重心波長、光譜寬幅、光譜圖等發(fā)光強(qiáng)度瞬間強(qiáng)度值，最大值，最小值，平均值，強(qiáng)度的時(shí)間變化等動(dòng)作環(huán)境配有USB2.0插口的WindowsXPPC,軟件用CDROM安裝。標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成同軸光學(xué)系本機(jī)，5倍變焦，濾光器，照明光源（含電源）發(fā)光形狀測量用攝像頭本機(jī)，USB接線，測試軟件CD光譜測量用分光器本機(jī)，光纖，USB接線，測試軟件CD強(qiáng)度測量儀本機(jī)，Si強(qiáng)度測量頭，USB接線，測試軟件CD軟件分析測量數(shù)據(jù)的軟件CD平臺系列光學(xué)系搭載XY平臺，樣品搭載XYZ平臺，樣品托架、底座I-L-V測量（可選）測量項(xiàng)目測量I-L、V-L、V-I電壓電流測量范圍0.01V?38V/分辨率10mV 0.001mA?200mA/分辨率1 A構(gòu)成測量儀，USB接線，測量軟件