一． 產(chǎn)品描述
ACF2685JLP垂直導(dǎo)電膠是由硅膠和金離子組成，由金離子導(dǎo)通，不受垂直壓力不導(dǎo)通。常溫儲存時(shí)間長，操作簡便。一般情況下，使用的垂直壓力是2—5Kg/cm2.測試板面無針痕，測試良率為90%以上（一次性對位后測試時(shí)就可以把良品和不良品分開），而且靈敏導(dǎo)通能力是PAD尺寸，間距，密度等，可以達(dá)到更小，更近，更高的測試效果。
二． 產(chǎn)品特點(diǎn)
1. 導(dǎo)電膠自身阻值很小，以實(shí)際側(cè)板為準(zhǔn)；
2. 非常長的開啟時(shí)間；
3. 導(dǎo)電膠質(zhì)軟，對板面不留痕跡；
4. 電阻率低至4.0μΩcm;
5. 使用方法：把導(dǎo)電膠鋪在治具的測試面直接使用，起到導(dǎo)電的作用，
6. 最小測試PAD，圓形能測4mil以上，矩形能測2mil*4mil以上，最小邊到邊間距3mil，最小PITCH為6mil;
7. 測試壽命：一般10-12萬次不等，主要根據(jù)而定測試治具；
8. 同一料號可以同時(shí)制作多套測試治具，制作成本時(shí)間不會增加太多；
9. 治具輕薄，方便保存和節(jié)省空間。
三． 產(chǎn)品應(yīng)用此導(dǎo)電膠墊推薦應(yīng)用在測試設(shè)備上，
1. 通常使用在復(fù)合式治具及JP，ACP治具上；
2. 高密度的PCB板在測試設(shè)備上；
3. 高密度倒裝IC芯片電路測試；
4. 替換傳統(tǒng)探針測試方式。