技術參數(shù) GD-Profiler系列包括2種型號，全部裝備RF射頻光源，每種型號均有多種選配件，用于滿足不同用戶的測試要求和預算。GD-Profiler2可測試多種樣品，有著極寬廣的應用范圍，GD-ProfilerHR是目前商品化的輝光光譜儀中性能最高的。*RF射頻發(fā)生器-標準配置，符合E級標準，穩(wěn)定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩(wěn)定時間極短，表面信息無任何失真。*脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。*多道(同時)型光學系統(tǒng)可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠紫外，可分析C,H,O,N,Cl*HORIBAJobinYvon的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有最大光通量，因而有最高的光效率和靈敏度*專利HDD 檢測器可進行快速而高靈敏的檢測，動態(tài)范圍達到10個量級*寬大的樣品室方便各類樣品的加載*功能強大的QUANTUMTXP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測報告*激光指點器(CenterLitelaserpointer，專利申請中)可用于精確加載樣品*HORIBAJobinYvon獨有的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，可同時測定N+1個元素 主要特點 HORIBAJobinYvon所生產(chǎn)的輝光放電發(fā)射光譜儀(RF-GD-OES)采用射頻(RF)光源，可以進行導體和非導體材料的基體、表面、逐層分析，是一種快速的、操作簡單的分析手段。GDS是一種理想的表面、逐層分析工具，分析深度高達幾百微米，深度分辨率可精確至原子層。HORIBAJobinYvon所生產(chǎn)的輝光放電光譜儀(GD)全部采用專利技術的HDD(HighDynamicrangeDetection)檢測器，可以實時、自動優(yōu)化工作參數(shù)，在靈敏度和動態(tài)范圍不受任何損失的情況下，一個分析通道就能完全滿足同一元素在不同層面內(nèi)微量和主量的測定。