本公司專門研發(fā)出針對K金特質(zhì)而檢測黃金純度的貴金屬純度測金儀，技術(shù)領(lǐng)先全球，價(jià)格實(shí)惠。詳細(xì)技術(shù)參如下（周艷13682384615）測金儀器先由X熒光光譜儀測量樣品表面層的成分和各元素的含量，由此數(shù)據(jù)計(jì)算出含有該成分的均勻合金的密度。再經(jīng)密度測試儀裝置測得樣品的真實(shí)密度與計(jì)算出的均勻合金密度相比較，判斷樣品是真實(shí)合金還是僅外層包裹有貴金屬的合金 詳細(xì)參數(shù)： 攝像頭：高清晰攝像定位系統(tǒng)，工作可靠，效率高 分析范圍：1%～99.99% 測量時(shí)間：自適應(yīng) 測量精度：±0.1% X射線源：Mo靶的X射線光管 集成工業(yè)計(jì)算機(jī)，無需外接電腦；帶門鎖電鎖，使日常管理更便捷； 探測器：固定式半導(dǎo)體封氣正比計(jì)數(shù)器 高壓器：4～50Kv 分析：多通道模擬 軟件：菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評估及計(jì)算 鍍層測量：鍍層厚度范圍<30um 溫度：15～30℃ 電壓：100～127V或220～240V,50/60Hz 最大功率：120W 重量：27公斤 尺寸：500*500*400mm 操作系統(tǒng)：Windows2000/Me/XP